Тестирование отдельных полупроводниковых приборов (тестирование или измерение во время изготовления или обработки •h01l 21/66·; тестирование фотоэлектронных устройств •h02s 50/10·) [2020.01]

Ищите и читайте полные тексты патентов со всего мира

Здесь пока нет доступных патентов.

Система и способ контроля рабочего состояния igbt-устройства в реальном времени

Область техники Настоящее изобретение относится к области IGBT-устройств, в частности к способам измерения или оценки температуры полупроводникового ...

Публикация: 2017-12-26

Способ диагностирования цепей измерения температур

Предлагаемое изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защ...

Публикация: 2020-06-22

Система и способ контроля рабочего состояния igbt-устройства в реальном времени

...

Публикация: 2014-07-20

Способ определения переходного теплового сопротивления кристалл-корпус и теплового сопротивления кристалл-корпус в состоянии теплового равновесия транзисторов с полевым управлением

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров компонентов силовой электроники и может быть использовано для определения переходного т...

Публикация: 2019-04-23

Компоновка smu, обеспечивающая стабильность rf транзистора

...

Публикация: 2015-08-27

Компоновка smu, обеспечивающая стабильность rf транзистора

Уровень техники Настоящее изобретение, в общем, относится к области радиочастотных (RF) транзисторов. В частности описана система, используемая для о...

Публикация: 2018-02-15

Способ сравнительной оценки партий транзисторов по качеству и надежности

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых транзисторов, и может быть использо...

Публикация: 2020-12-24

Переключающее устройство

Данное изобретение касается переключающего устройства, и в частности переключающего устройства с возможностью проверки для тестирования функциональн...

Публикация: 2007-11-20

Способ измерения тепловых сопротивлений переход-корпус и тепловых постоянных времени переход-корпус кристаллов полупроводниковых изделий в составе электронного модуля

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров кристаллов бескорпусных полупроводниковых изделий (ППИ) в составе электронных модулей и...

Публикация: 2020-04-27

Способ измерения теплового сопротивления между корпусом полупроводникового прибора и радиатором охлаждения

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения тепловых параметров полупро...

Публикация: 2019-05-06

РОССТИП

Поиск по товарам

Добавить свой товар

Сообщества

Товары

Участники

Патенты

Запросов

Поставщикам

О сервисе

Блогерам

Помощь