Ищите и читайте полные тексты патентов со всего мира
Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, преимущественно к атомно-силовой микроскопии. Оно может быть использовано, например...
Публикация: 2019-09-02
...
Публикация: 2019-02-20
Публикация: 2018-09-24
Способ детектирования ближнепольного оптического отклика для сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) относится к методам ближнепольной оптической мик...
Публикация: 2019-07-18
