Патенты
Измерительные устройства, характеризуемые использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц (•9/00·,•11/00· имеют преимущество) [4]
Ищите и читайте полные тексты патентов со всего мира
Классификатор
Назад
Измерительные устройства, характеризуемые использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц (•9/00·,•11/00· имеют преимущество) [4]
Для измерения толщины
Для измерения контуров или кривых
Для измерения деформаций твердых тел
Для измерения шероховатости или неровности поверхностей [6]
Здесь пока нет доступных патентов.
Невозможно загрузить содержимое всплывающей подсказки.
РОССТИП
Поиск по товарам
Добавить свой товар
Сообщества
Товары
Участники
Патенты
Запросов
Поставщикам
О сервисе
Блогерам
Помощь