Код документа: RU2775538C1
Изобретение относится к области регистрации радиоактивных излучений, а именно к регистрации γ-излучения, и может быть использовано при определении эффективной толщины сцинтиллятора радиационного монитора с учетом спектрального состава фона и источника.
Известен способ определения эффективной толщины сцинтиллятора [1], в котором выбирают толщину сцинтиллятора, соответствующую 90 %-му поглощению γ-излучения согласно выражению
φ(x) = φ0· exp(-ρ·μm·h),
где φ0 – начальный поток;
ρ – плотность вещества, г/см2;
μm – массовый коэффициент взаимодействия, см2/г;
h – толщина сцинтиллятора, см.
Недостатком является неиспользование в расчетах фоновой составляющей, что приводит к завышению толщины сцинтиллятора.
Известен способ выбора толщины сцинтиллятора NaI(Tl), основанный на том, что в качестве критерия принимают толщину сцинтиллятора, при которой достигается максимум отношения вероятность регистрации излучения источника S к вероятности регистрации фонового излучения В
Для сцинтиллятора толщиной h вероятность регистрации S определяется согласно выражению:
где
h – толщина сцинтиллятора, см,
В данном способе используется следующее упрощение: вероятность регистрации фона принимается линейно зависящей от толщины сцинтиллятора:
где
Недостатками данного способа являются представление вероятности регистрации фона, линейно зависящей от толщины сцинтиллятора, что характерно для тонких пластин, отсутствие учета спектральной составляющей излучения, что приводит к неверному результату в случае наличия в спектре мультиплета.
Задачей изобретения является определение эффективной толщины сцинтиллятора радиационного монитора с учетом спектрального состава фона и источника, повышение эффективности регистрации.
Техническим результатом изобретения является повышение эффективности регистрации.
Технический результат достигается тем, что определяют наибольшее превышение полезного сигнала над фоном
На фиг. 1 показана зависимость коэффициента
Таблица 1
В таблице 2 представлены эффективные толщины h для сцинтиллятора CsI(Tl) при регистрации γ-излучения от235U,133Ba и60Co рассчитанные с помощью разработанного способа (метод №1) и известного [2, 3] (метод №2).
Таблица 2
* ε – отношение эффективности регистрации.
Источники информации
1. Рыжиков В.Д., Сохин В.П. Оптимизация толщины сцинтиллятора при регистрации рентгеновского и γ-излучения в широком энергетическом диапазоне // ПТЭ, 1988, № 5, с. 177.
2. Косицын В.Ф., Шумаков А.В. Повышение надежности контроля несанкционированного передвижения малого количества делящихся и других радиоактивных материалов // Атомная энергия, Т.75, вып. 2, март 1993, с. 103.
3. Косицын В.Ф., Рагимов Т.К., Шумаков А.В. Рекомендации по выбору толщины кристалла NaI(Tl) при обнаружении слабых кратковременных потоков фотонов// Атомная энергия, Т.71, вып. 4, март 1991, с. 343.
4. Лабораторный спецпрактикум «Низкофоновая установка РЭУС-II-15» Ростов-на-Дону, 2008, с. 66.
Изобретение относится к области регистрации радиоактивных излучений. Способ определения эффективной толщины сцинтиллятора радиационного монитора, регистрирующего γ-излучение, заключается в том, что строят зависимость коэффициента
Способ измерения верхнего предела интегральных и динамических характеристик высокоэнергетичных тормозного или гамма-излучений мощных импульсных источников