Электрооптическое измерение гистерезиса в интерферометрических модуляторах - RU2005129947A

Реферат

1. Способ тестирования множества интерферометрических модуляторов, содержащий приложение сигнала напряжения треугольной формы к интерферометрическим модуляторам; и детектирование светоотражающей способности интерферометрических модуляторов.

2. Способ по п.1, в котором этап приложения сигнала треугольной формы вызывает переход интерферометрических модуляторов между активированным и деактивированным состояниями.

3. Способ по п.1, в котором сигнал треугольной формы имеет частоту меньше, чем примерно 20 Гц.

4. Способ по п.3, в котором сигнал треугольной формы имеет частоту от примерно 1 Гц до примерно 15 Гц.

5. Способ по п.1, в котором амплитуда сигнала треугольной формы больше, чем напряжение, необходимое, чтобы вызвать соответствующее положительное или отрицательное активирование интерферометрических модуляторов.

6. Способ по п.5, в котором амплитуда сигнала треугольной формы примерно в 1,5 раза меньше, чем напряжение, необходимое чтобы вызвать соответствующее положительное или отрицательное активирование интерферометрических модуляторов.

7. Способ по п.1, в котором сигнал напряжения треугольной формы одновременно приложен ко всем интерферометрическим модуляторам в отражательном дисплее.

8. Способ по п.1, в котором этап детектирования включает в себя детектирование отражающей способности не ото всех интерферометрических модуляторов в отражательном дисплее.

9. Способ по п.1, в котором этап детектирования включает в себя измерение отражающей способности фотодетектором.

10. Способ по п.1, в котором этап детектирования включает в себя измерение отражающей способности через светорассеиватель, размещенный перед интерферометрическими модуляторами.

11. Способ по п.1, в котором этап детектирования включает в себя измерение отражающей способности под углом, который по существу является перпендикулярным к интерферометрическим модуляторам.

12. Способ определения электрических параметров для управления множеством интерферометрических модуляторов, содержащий приложение изменяющихся во времени стимулов напряжения к интерферометрическим модуляторам; детектирование светоотражающей способности интерферометрических модуляторов; и определение одного или нескольких электрических параметров из указанной светоотражающей способности в ответ на указанные изменяющиеся во времени стимулы, причем электрические параметры соответствуют электрическим параметрам, достаточным, чтобы вызвать изменение в состоянии интерферометрических модуляторов.

13. Способ по п.12, в котором этап определения включает в себя определение напряжения, необходимого, чтобы вызвать переход интерферометрических модуляторов из деактивированного в активированное состояние.

14. Способ по п.12, в котором этап определения включает в себя определение напряжения, необходимого, чтобы вызвать переход интерферометрических модуляторов из активированного в деактивированное состояние.

15. Способ по п.12, в котором этап определения включает в себя определение амплитуды напряжения смещения в интерферометрических модуляторах.

16. Способ по п.12, в котором этап определения включает в себя определение амплитуды напряжения сдвига в интерферометрических модуляторах.

17. Способ по п.12, в котором этап определения включает в себя определение амплитуды окна памяти в интерферометрических модуляторах.

18. Способ по п.12, в котором этап определения включает в себя нормализацию отражающей способности для одного или нескольких предварительно определенных значений; и определение потенциалов, при которых нормализованная отражающая способность пересекает ноль.

19. Способ тестирования множества структур интерферометрических модуляторов, содержащий приложение изменяющихся во времени сигналов напряжения к интерферометрическим модуляторам; детектирование светоотражающей способности интерферометрических модуляторов; определение светоотражающей способности как функции напряжения; и идентификацию множества интерферометрических модуляторов как имеющих достаточное качество для использования в дисплее, исходя из указанного определения.

20. Способ по п.19, дополнительно содержащий идентификацию интерферометрических модуляторов как имеющих достаточное качество для использования в дисплее, если указанная светоотражающая способность, как функция напряжения, демонстрирует заданные характеристики гистерезиса.

21. Способ по п.19, в котором интерферометрические модуляторы идентифицируют как имеющие достаточное качество для использования в дисплее, если указанная отражающая способность света, как функция напряжения, указывает амплитуду окна памяти интерферометрических модуляторов, находящуюся внутри заданного порогового окна.

22. Способ по п.19, в котором интерферометрические модуляторы идентифицируют как имеющие достаточное качество для использования в дисплее, если указанная отражающая способность света, как функция напряжения, указывает амплитуду напряжения смещения интерферометрических модуляторов, находящуюся внутри заданного порогового окна.

23. Система тестирования множества интерферометрических модуляторов, содержащая источник освещения, выполненный с возможностью обеспечения падающего света на множество интерферометрических модуляторов; источник напряжения, выполненный с возможностью приложения достаточного напряжения к интерферометрическим модуляторам таким образом, чтобы изменить их состояние; и оптический детектор, выполненный с возможностью детектирования света, отраженного от множества интерферометрических модуляторов.

24. Система по п.23, в которой источник освещения обеспечивает падающий свет под углом, который по существу является перпендикулярным к интерферометрическим модуляторам.

25. Система по п.23, в которой источник напряжения электрически соединен одновременно со всеми интерферометрическими модуляторами в отражательном дисплее.

26. Система по п.23, в которой источник напряжения выполнен с возможностью приложения изменяющегося во времени напряжения.

27. Система по п.26, в которой источник напряжения выполнен с возможностью приложения сигнала напряжения треугольной формы.

28. Система по п.23, в которой оптический детектор представляет собой фотодетектор.

29. Система по п.23, в которой оптический детектор выполнен с возможностью детектирования света не ото всех интерферометрических модуляторов в отражательном дисплее.

30. Система по п.23, в которой оптический детектор выполнен с возможностью детектирования света под углом, который по существу является перпендикулярным к интерферометрическим модуляторам.

31. Система по п.23, в которой оптический детектор выполнен с возможностью детектирования света через светорассеиватель.

32. Система по п.23, дополнительно включающая в себя фильтр, размещенный перед оптическим детектором.

33. Способ тестирования множества интерферометрических модуляторов, содержащий приложение изменяющегося во времени сигнала напряжения к интерферометрическим модуляторам; детектирование светоотражающей способности интерферометрических модуляторов; повторение указанных этапов приложения и детектирования один или несколько раз; усреднение, по меньшей мере, части детектированной отражающей способности; и определение одного или нескольких электрических параметров из указанной усредненной отражающей способности.

34. Способ тестирования цветного дисплея с интерферометрической модуляцией, причем дисплей содержит множество типов подпикселей, при этом каждый тип подпикселей соответствует отдельному цвету, содержащий приложение изменяющегося во времени сигнала напряжения к одному типу подпикселей; детектирование светоотражающей способности указанного типа подпикселей; определение одного или нескольких электрических параметров из указанного детектирования; и повторение указанных этапов приложения, детектирования и определения для другого типа подпикселей.

35. Система для тестирования множества интерферометрических модуляторов, содержащая средство для приложения изменяющегося во времени сигнала напряжения к интерферометрическим модуляторам; средство для детектирования светоотражающей способности интерферометрических модуляторов; средство для определения одного или нескольких параметров, исходя из указанной детектированной отражающей способности.

36. Система по п.35, в которой средство для приложения изменяющегося во времени сигнала напряжения представляет собой источник питания.

37. Система по п.35, в которой средство для детектирования отражающей способности представляет собой фотодетектор.

38. Система по п.35, в которой средство для определения одного или нескольких параметров представляет собой компьютер.

39. Способ производства системы тестирования множества интерферометрических модуляторов, содержащий модификацию источника освещения таким образом, чтобы он был выполнен с возможностью предоставления падающего света на множество интерферометрических модуляторов, предназначенных для тестирования; модификацию источника питания таким образом, чтобы он был выполнен с возможностью приложения достаточного напряжения к интерферометрическим модуляторам, предназначенным для тестирования, таким образом, чтобы изменялось их состояние; модификацию оптического детектора таким образом, чтобы он был выполнен с возможностью детектирования света, отраженного от множества интерферометрических модуляторов.

40. Способ по п.39, дополнительно содержащий модификацию источника освещения таким образом, чтобы он был выполнен с возможностью предоставления падающего света под углом, который по существу является перпендикулярным к интерферометрическим модуляторам, предназначенным для тестирования.

41. Способ по п.39, дополнительно содержащий модификацию источника питания таким образом, чтобы он был выполнен с возможностью одновременного электрического соединения со всеми интерферометрическими модуляторами, предназначенными для тестирования в отражательном дисплее.

42. Способ по п.39, дополнительно содержащий модификацию источника питания, таким образом, чтобы он был выполнен с возможностью приложения изменяющегося во времени сигнала напряжения.

43. Интерферометрический модулятор, протестированный способом, содержащим приложение сигнала напряжения треугольной формы к интерферометрическим модуляторам; и детектирование светоотражающей способности интерферометрических модуляторов.

44. Интерферометрический модулятор по п.43, в котором приложение сигнала напряжения треугольной формы вызывает переход интерферометрических модуляторов между активированным и деактивированным состояниями.

45. Интерферометрический модулятор по п.43, в котором сигнал напряжения треугольной формы одновременно приложен ко всем интерферометрическим модуляторам в отражательном дисплее.

46. Интерферометрический модулятор по п.43, в котором детектирование отражающей способности содержит измерение фотодетектором.

47. Интерферометрический модулятор по п.43, в котором этап детектирования включает в себя измерение отражающей способности под углом, который по существу является перпендикулярным к интерферометрическим модуляторам.