Способ встроенного тестирования линий - RU2010109853A

Реферат

1. Способ тестирования линии (5), содержащей входной/выходной вывод (3) программируемой логической схемы (2), при этом линия (5) содержит, по меньшей мере, одну отдельную линию (1), проходящую от входного/выходного вывода (3) к периферийному элементу (4), причем входной/выходной вывод (3) может находиться либо на высоком логическом уровне, либо на низком логическом уровне, противоположном высокому логическому уровню, способ содержит следующие этапы: ! возбуждают входной/выходной вывод (3), на который напряжение (UP) возбуждения подают на контакты входного/выходного вывода (3) между начальным моментом (tpi) возбуждения и конечным моментом (tpf) возбуждения, ! отличающийся тем, что ! измеряют уровень на входном/выходном выводе (3), начиная с конечного момента (tpf) возбуждения, в течение которого вывод больше не возбуждают, и в течение которого измеренный логический уровень (LMi) записывают для входного/выходного вывода (3) в, по меньшей мере, один момент изменения (tMi), ! сравнивают измеренный/ые логический/ие уровень/уровни (LMi) в (соответствующий/ие) момент/ы измерения с теоретическим/и логическим/и уровнем/уровнями, который/ые должен/должны присутствовать на входном/выходном выводе (3) в (соответствующий/ие) момент/ы (tMi) измерения при отсутствии какой-либо неисправности линии, ! детектируют неисправность линии, когда, по меньшей мере, один логический уровень, измеренный в момент измерения, отличается от теоретического логического уровня в момент измерения. ! 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что входной/выходной вывод (3) не возбуждают, если определено, что ! на выводе присутствует высокий логический уровень, когда напряжение на его контакта