V
1U
Изобретение относится к оптичес- кой обработке информации, адаптивной
оптике и предназначено для использования в задачах определения и коррекции волновых фронтов светового поля.
Целью изобретения является повышение точности анализа волновых фронтов
светового поля и обеспечение возможности анализа волнового фронта светового поля с произвольньм амплитудным
распределением.
На фиг. 1 и 2 представлены схематично
устройства, реализуюпше способ анализа волновых фронтов светового поля.
Устройство фиг. содержит последовательно расположенные оптически
связанные линзу 1 , дифракционнуго решетку 2, ра сположенную от линзы 1 на 20 ФУРье исходного распределения волне-
расстоянии, меньшем ее фо-кусного рас- вого поля, дифракционная решетка 2 стояния, на трех оптических выходах
дифракционной решетки образ-уются на фокусном расстоянии от линзы 1 три
спектральных распределения, соответствующих преобразованию Фурье от исходного
распределения, поступающего на вход устройства; первый оптический выход дифракционной решетки 2
на фокусном расстоянии от линзы связан с оптическим входом первого амплитудно-фазового транспаранта 3,
расположенного в передней фокальнс й плоскости линзы 4, осуществляющей
обратное преобразование Фурье, спти- ческий выход которой связан с оптическим
входом первого устройства 5 регистрации интенсивности (УРИ), электрический выход которого связан
осуществляет расщепление преобразуемого по Фурье светового поля-на три
канала, в двух из которых, соответ25 ствующих каналам Р.. Рч и , осуществляется
операция дифференцирования по взаиа но-перпендикулярным координатньм направлениям с помощь о
амплитудно-фазовых транспорантоз 3
30 и 9, в третьем канале Р, Р- осуществляется
перенос распределения светового поля из плоскости Р. . в плоскость Р с коэффициентом ослабления,
оиределяемьпг дифракционной эффектив е дифракционной решетки 2. Первое
. 5s второе 8 и третье И устройст- ,ва регистрации интенсивности обеспечивают
измерение, интенсивностей
I, (, ) - первое УРИ 8, I,
с первым электрическим входом блока 5 Qвторое УТИ 5 и 1(,,) - третье
электронной обработки (БЗО); вторейУРИ II, с помощью которых в блоке 6
оптический выход дифракционной решет-электронной обработки (ВЭО) вычисля .ки 2 через линзу 7, осуществляющуюются производные фазы {наклон волнообратное-
преобразование Фурье, связан с оптическим входом второго yPJ l
(
TyJ
У
2с
где 1,(х,у-, ) - интенсивность исходного
светового поля {(УРИ 8):
i(x,y.,)
- интенсивность преобрг зованного светового
5
8, электрический выход которого связан с вторым электр1- ческим входом
БЭО 6; третий оптический выход дифракционной решетки 2 в плоскости спектрального распределения связан
с оптическим входом второго амплитуд- но- фазового транспаранта 9, расположенного
в передней фокальной плоскости линзы 10, осуществляющей обратное преобразование Фурье, оптический
выход которой связан с оптическим входом третьего УРИ i 1 , электрически(
выход которого связан с третьим электрическим входом БЭО 6.
Способ анализа волновых фронтов светового поля осуществляется в sTOiM
устройстве следующим образом. Линза 1 осуществляет прямое преобразование
ФУРье исходного распределения волне- вого поля, дифракционная решетка 2
осуществляет расщепление преобразуемого по Фурье светового поля-на три
канала, в двух из которых, соответствующих каналам Р.. Рч и , осуществляется
операция дифференцирования по взаиа но-перпендикулярным координатньм направлениям с помощь о
амплитудно-фазовых транспорантоз 3
и 9, в третьем канале Р, Р- осуществляется
перенос распределения светового поля из плоскости Р. . в плоскость Р с коэффициентом ослабления,
оиределяемьпг дифракционной эффективнос ью дифракционной решетки 2. Первое
. 5s второе 8 и третье И устройст- ва регистрации интенсивности обеспечивают
измерение, интенсивностей
ФУРье исходного распределения вол
вого поля, дифракционная решетка
I, (, ) - первое УРИ 8, I,
второе УТИ 5 и 1(,,) - третье
вого фронта светового поля; по фор (2)
поля в случае ocyaje- ствления амплитудно- фазового преобразования
по (5дчому координатному Hanp. JBj iefiFTO (УРИ 5) :,
1-(х,у,,) - интенсивность преобразованного светового
поля в случае осуще- ствления амплитудно- фазового преобразования
по другому натному направлению (УРИ 11);
с - постоянный -множитель, учитывающий амплитуд- ньш коэффициент передачи
оптической системы .
По значениям производных фазы по
обоим координатным направлениям определяется фазовое распределение светового поля.
Устройство по фиг. 2 отличается от устройства по фиг.1 тем, что рас-
щепление светового пучка на три канала осуществляется с помощью двух полупрозрачных
зеркал. Кроме того, световой пучок в канале, обеспечивающем измерение исходной интенсивности
I ( ), не претерпевает прямого и обратного преобразований Фурье, а прямо попадает на первое устройство
ре1:истрации интенсивности.
Устройство, изображенное на фиг.2
содержит оптически связанные первое полупрозрачное зеркало (ППЗ) 1, один
оптический выход которого связан с оптически ; входом линзы 2, а второй с
оптическим входом первого устройст
ва 3 регистрации интенсивности (УРИ)
электрический выход которого связан с первым электрическим входом блока
4 электронной обработки (ВЭО). Оптический выход линзь 2 связан с опти-
часким входом второго ППЗ 5, первый оптический выход которого связан с
оптическим входом первого амплитудно- фазового транспаранта 6, расположенного
в задней фокальной плоскости .линзы 2 и в передней фокальной плоскости линзы 7, осуществляющей обратное
преобразование Фурье, оптический выход которой связан с оптическим входом второго УРИ 8, электрический
выход которого связан с вторым электрическим входом БЭО 4. Второй оптический выход второго ППЗ 5 связан
с оптическим входом второго амплитудно-фазового транспаранта 9, располо-
женного в задней фокальной плоскости линзы 2 и в передней фокальной плоскости
линзы 1 О, осуществляющей обратное преобразование Фурье, оптический
Q
5
0
5
о
5
Q g 0 g
2
выход которой свля;;н с оптическим входом третьего УРН 11, электрический
выход которого соединен с третьим входом БЭО 4.
Способ в этом устройстве осуществляется следующим образом.
Исходное световое распределение попадает ка первое ППЗ 1, расщепляется
на двг: пучка, один из которых попадает ) первое УРИ 3, фиксирующее распределение интенсивности I, (. )
с учетом коэффициента отражения первого ППЗ 1, а второй преобразуется по
Фурье линзой 2 и проходит Heptes второе ППЗ 5, расщепляющее его на два
пучка, один из которых в фокальной плоскости линзы 2 преобразуется первым
амплитдуно-фазовым транспарантом 6, претерпевает обратное преобразование линзой 7 и полученное
распределение интенсивности 1(у ) фиксируется вторым УРИ 8 (этот канал
обеспечивает дифференцирование исходного светового поля по одному из координатных
направлений), а второй в фокальной плоскости линзы 2 преобразуется вторым амплитудно-фазовым
транспарантом 9, затем претерпевает обратное преобразование Фурье
линзой 10 и полученное распределение интенсивности 1Лу.у) фиксируется v.
с помощью третьего УРИ 11 (этот канал обеспечивает дифференцирование
исходного светового поля по другому координатному направлению).
Электрические сигналы с первого 3, второго 8 и третьего 11 УРИ поступают
на первый, второй и третий электрические входы БЭО 4, где по формулам (l) и (2) осуществляется расчет
f«()) а по ним определяется фазовое распределение светового поля Cf, (x,yj.
Дополнительнь е по отношению к известному способу операции линейного
амплитудного преобразования Фурье- распределения светового поля по координатным
направлениям, регистрация интенсивности преобразованного поля
по тем же направлениям вместе с регистрацией интенсивности исходного
светового поля с последующей ьбра- богкой по формулам (1) и (2) снимают
характерные для преобразования Гильберта , составляющего сущность прототипа
, ограничения на вид амплитудного распределения исходного поля и повышают точность анализа в 5-6 раз.
ормула и
5
3 о
1443012
бретения
во пр
ис рь ос Пр
де ле
Способ анализа волновых фронтов
светового поля, заключающийся в том, что осуществляют Фурье-преобразование
светового поля, фазовое преобразование полученного спектрального распределения
поля, регистрацию интенсив-ности преобразованного светового рас- ю ностей преобразованного светового
пределения/ отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа и расширения функциональных
возможностей обеспечения анализа волполя осуществляют по этим же коорд
натным направлениям, после чего на клоны волнового фронта светового п по координатным направлениям опред
новых фронтов.,светового поля с произ- 15 ляют по формулам
9tf(x«y )
Г я TZ 41Дх,2/-, )1(хгУ4)-с д 1,(х,у, )J
2с I.
41, (Х, у, )1}(Х2У4 )-С
2с 14 (х,у, )
де l ,(, )
г У-гУг
интенсивность исходного светового поля;
интенсивность резулы тирующего светового поля, полученного в
результате осуществления всех перечисленных операций с линейньм
амплитудным и фазовым преобразованиями по одному координатному
Направлению;
.) - интенсивность результирующего светового
поля, полученного в
LLU
,-.
b
вольным амплитудным распределением, производят регистрацию интенсивности
исходного светового поля, после Фу- , рье-преобразования светового поля
осуществляют линейное амплитудное Преобразование спектрсшьного распределения
поля по координатш 1м йаправ- лениям, причем регистрацию интенсивполя
осуществляют по этим же координатным направлениям, после чего наклоны волнового фронта светового поля
по координатным направлениям опреде2с I.
1
Дх,У, )
2с 14 (х,у, )
результате осуществления
всех перечисленных операци1Й с линейньм амплитудным и фазовьп
преобразованиями по другому координатному направлению;
с - постояшяый множитель, учитывающий амплитудный козсЬфициент пере-,
дачи оптической сие- , темы,
а по наклонам определяют фазовое расределение
светового поля.