Матричные устройства для образцов и система для спектрального анализа - RU2021123492A
Код документа: RU2021123492A
Формула
1. Планшет для размещения образцов для инфракрасного спектрального анализа, содержащий:
подложку, образующую множество лунок, углубленных относительно ее поверхности, причем каждая из лунок образует участок образца, углубленный на глубину образца от указанной поверхности, и участок желоба, углубленный на глубину желоба от указанной поверхности, причем глубина желоба больше, чем глубина образца; и
где подожка выполнена из материала, который по существу не вступает в реакцию с эталонным образцом и/или образцом, помещенными внутри лунок, и где подложка приспособлена для пропускания электромагнитного излучения.
2. Планшет по п. 1, в котором подложка представляет собой соль.
3. Планшет по п. 1, в котором подложка содержит AgBr, AgCl, Al2O3, AMTIR, BaF2, CaF2, CdTe, CsI, алмаз, Ge, KBr, KCl, KRS-5, LiF, MgF2, NaCl, Si, SiO2, ZnS, ZnSe, и/или ZrO2.
4. Планшет по п. 1, в котором периферия указанного планшета образует двустороннюю асимметричную форму.
5. Планшет по п. 1, в котором участок желоба проходит полностью вокруг участка образца.
6. Планшет по п. 1, в котором участок образца расположен концентрически внутри участка желоба.
7. Планшет по п. 1, в котором указанное множество лунок обеспечено в виде множества рядов, причем каждый ряд содержит по меньшей мере две из указанного множества лунок.
8. Планшет по п. 1, который является пригодным для многоразового использования.
9. Система для спектрального анализа, содержащая
планшет, содержащий:
подложку, образующую множество лунок, углубленных относительно ее поверхности, и где подожка выполнена из материала, который по существу не вступает в реакцию с эталонным образцом и/или образцом, помещенными внутри лунок, и где подложка приспособлена для пропускания электромагнитного излучения; и
держатель, содержащий:
корпус, определяющий полость между первой стороной и второй стороной указанного корпуса;
отверстие для приема планшета в полость;
один или более первых проемов на первой стороне; и
один или более вторых проемов на второй стороне.
10. Система по п. 9, дополнительно содержащая блок, выполненный с возможностью закрепления планшета внутри полости при размещении указанного блока внутри указанного отверстия.
11. Система по п. 9, дополнительно содержащая крышку, выполненную с возможностью закрытия каждой из лунок при размещении на поверхности планшета.
12. Система по п. 9, в которой крышка выполнена с возможностью пропускания электромагнитного излучения.
13. Система по п. 11, в которой крышка и планшет имеют по существу равную толщину в направлении, перпендикулярном поверхности планшета, при размещении крышки на поверхности планшета.
14. Система по п. 9, в которой корпус держателя поглощает по существу все электромагнитное излучение, падающее на указанный держатель.
15. Система по п. 9, в которой указанное множество лунок обеспечено в виде множества рядов, причем каждый ряд содержит по меньшей мере две из указанного множества лунок.
16. Система по п. 15, в которой один или более первых проемов содержат некоторое количество первых окон, равное количеству указанного множества рядов, и один или более вторых проемов содержат некоторое количество вторых окон, равное количеству указанного множества рядов.
17. Система по п. 16, в которой одно из первых окон и одно из вторых окон расположены на противоположных сторонах одного из указанного множества рядов при размещении планшета в держателе.
18. Система по п. 9, в которой указанное отверстие расположено на третьей стороне держателя.
19. Система по п. 9, в которой первая сторона противоположна второй стороне.
20. Система по п. 9, в которой по меньшей мере одна из указанного множества лунок, указанный один или более первых проемов и указанный один или более вторых проемов выровнены по оси, когда планшет находится в полости.
21. Система по п. 9, в которой планшет, указанный один или более первых проемов и указанный один или более вторых проемов выполнены с возможностью пропускания электромагнитного излучения.
22. Система по п. 9, дополнительно содержащая покрытие на внутренней поверхности корпуса.
23. Система по п. 22, в которой указанное покрытие содержит силикон.
24. Система по п. 9, дополнительно содержащая насадку, находящуюся в тепловом контакте с внешней поверхностью держателя, причем указанная насадка содержит один или более третьих проемов.
25. Способ спектрального анализа, включающий:
обеспечение наличия образцов в каждой из множества лунок, образованных в планшете, причем каждая из лунок образует участок образца, углубленный на глубину образца от поверхности планшета, и участок желоба, углубленный на глубину желоба от указанной поверхности, и где подожка выполнена из материала, который по существу не вступает в реакцию с эталонным образцом и/или образцом, помещенными внутри лунок;
закрытие лунок посредством наложения крышки на поверхность планшета;
вставку планшета и крышки в полость держателя; и
испускание электромагнитного излучения через один или более первых проемов в держателе, один или более вторых проемов в держателе и образец.
26. Способ по п. 25, дополнительно включающий вставку держателя в приемник пластины, прикрепленной к изображающему устройству.
27. Способ по п. 26, в котором вставка держателя включает размещение образца на фокусном расстоянии изображающего устройства.
28. Способ по п. 25, дополнительно включающий нагрев образцов до целевой температуры посредством проведения тепла через держатель.
29. Способ по п. 25, дополнительно включающий размещение насадки в тепловом контакте с внешней поверхностью держателя.
30. Способ по п. 29, в котором испускание электромагнитного излучения включает испускание электромагнитного излучения через один или более третьих проемов в насадке.
31. Способ по п. 25, в котором вставка планшета и крышки включает вставку планшета и крышки через отверстие в держателе.
32. Способ по п. 31, дополнительно включающий, после вставки планшета и крышки, заграждение отверстия блоком.
33. Способ по п. 25, в котором электромагнитное излучение представляет собой инфракрасное излучение.
34. Способ по п. 25, дополнительно включающий после испускания электромагнитного излучения обнаружение характеристики электромагнитного излучения, не поглощенного образцом.
35. Способ по п. 25, дополнительно включающий: после испускания электромагнитного излучения изменение температуры образца; и испускание дополнительного электромагнитного излучения через один или более первых проемов, один или более вторых проемов в держателе и через образец.
