см
Изобретение относится к способам анализа состава вещества с помощью
рентгеновского или гамма-излучения, особенно к способам сортировки руды рентгенор адиометрическим или гам-
ма гамма-методом.
Цель изобретения - повьшение точности
и надежности измерения содержания определяемого элемента в поверхностном слое образца.
На фиг. 1 изображена схема устройства , на котором может быть осуществлено
изобретение; на фиг. 2 - схема выбора положений и ширин каналов регистрир ующего устройства.
Источник 1 гамма-излучения облучает образец 2 руды, свободно падающий
мимо детектора 3, регистрирующего вторичные излучения от образца Детектором 3, помещенным в защитный
экран 4, может быть, в частности, сцинтилляционный счетчик в спектрометрическом режиме, соединенный с
двухканальной регистрирующей схемой (не показана). Спектр вторичного
излучения при рентгенорадиометричес- кой сортировке содержит пик характеристического
рентгеновского излучения определяемого элемента,, входящего в. ценньш минерал, и непрерывно
распределенное в этюй же области спектра фоновое излучение, образованное
в основном комптоновским рассеянием первичного излучения. При сортировке образцов гамма-гамма-методом
спектр вторичного излучения содержит пики обратно рассеянных образцов в первичных излучений и фоновое
излучение.
На изображенной на фиг. 2 части спектра вторичного излучения показан
выбор, положений и ширин каналов двухканальной регистрирующей схемы.
Центры каналов совпадают между собою и с центром пика вторичного излучения , лежащего на подкладке фона
Согласно изобретению первый (I) канал региструющей cxe№i вьщеляет суммарную интенсивность (Ьц) пика вто-
ричйого излучения (пик вьщеляют целиком ), например, характеристического
рентгеновского излучения опреде- хшемого элемента и фон под ним. Второй канал (II) значительно большей
ширины вьщеляют тот же пик вторич- ного излучения целиком и фоновое излучение большей интенсивности (ij)
Обозначим интенсивность характеристического рентгеновского излучени
14178022
как F, фонового излучения, регистрируемого
первым каналом, как Т и регистрируемого вторым.каналом как КТ, где К 1 .
Тогда I г
I;
Т
КТ
(1)
(2)
Вычитая вьфажение (2) из выраже10
ния (1), получаем 1д-1 Т(К-1)
Интенсивность фоновой радиации Т описывается выражением
II-IT.
(4)
15
Из выражений (1) и (2) получаем
следующее выражение для интенсивности рентгеновской флуоресценции F
Р - Kicli
К-1
(5)
20
Отношение интенсивностей F и Т
.
IS-IT
(6)
5
0
5
5
0
5
0
служит параметром, по которому определяют
содержание определяемого элемента на поверхности анализируемого образп,а 2., По значению параметра
F/T анализируемый образец сортируется как руда или как пустая порода в
зависимости от того, превысил ли он заданный критерий сортировки или нет..Формула
изобретения
1. Способ сортировки образцов
руды по содержанию в них определяемого элемента, заключающийся в облучении образцов руды излучением с
энергией, достаточной для возбуждения характеристического рентгеновского
излучения определяемого элемента по крайней мере от одного источника
излучения, регистрации спектрометрическим детектором с двухканальной схемой регистрации суммарной
интенсивности Ij пика вторичного излучения от образца и фона, отличающийся тем, что, с
целью повьшения точности и надежности определения содержания определяемого
элемента в поверхностном слое образца, дополнительно регистрируют
суммарную интенсивность 1ц пика вторичного излучения и фона более широким
, чем первый, каналом регистрирующей схемы, центр которого совпадает
с центром первого канала,.используют измеренные интенсивности
f4je.f