Кристаллические соединения - RU2018101244A

1. Кристаллическая форма A гидрохлорида (1R,5S)-1-(нафталин-2-ил)-3-азабицикло[3.1.0]гексана, относящаяся к пространственной группе P2₁2₁2₁ и характеризующаяся следующими параметрами элементарной ячейки

a=5,7779(2) Å, b=8,6633(2) Å, c=25,7280(8) Å, α=β=γ=90°.

2. Кристаллическая форма A по п. 1, характеризующаяся порошковой дифракционной рентгенограммой (XRPD), измеренной с применением падающего пучка излучения Cu Kα, при этом рентгенограмма содержит пять пиков, выбранных из пиков, показанных на фигуре 1.

3. Кристаллическая форма A по п. 1 или 2, характеризующаяся порошковой дифракционной рентгенограммой (XRPD), измеренной с применением падающего пучка излучения Cu Kα, при этом рентгенограмма, по сути, показана на фигуре 1.

4. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-3, характеризующаяся порошковой дифракционной рентгенограммой (XRPD), измеренной с применением падающего пучка излучения Cu Kα, при этом рентгенограмма показана на фигуре 1.

5. Кристаллическая форма A гидрохлорида (1R,5S)-1-(нафталин-2-ил)-3-азабицикло[3.1.0]гексана, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), составляющие 15,4, 16,6, 17,2, 18,5, 19,5, 20,5, 20,7, 22,9 и 25,7, при этом XRPD измерена с применением падающего пучка излучения Cu Kα.

6. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-5, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), приведенные в таблице А ниже:

при этом XRPD измерена с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å.

7. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-6, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), составляющие 12,3, 13,8, 15,4, 16,6, 17,2, 18,2, 18,5, 19,5, 20,5, 20,7, 22,9 и 25,7, при этом XRPD измерена с применением падающего пучка излучения Cu Kα.

8. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-7, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), приведенные в таблице B ниже:

при этом XRPD измерена с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å.

9. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-8, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей следующие значения 2-тета (°):

6,9, 12,3, 13,8, 14,5, 15,4, 16,6, 17,2, 18,2, 18,5, 19,5, 20,1, 20,5, 20,7, 21,0, 21,5,

22,9, 24,7, 25,2, 25,4, 25,7, 26,4, 27,5 и 27,8,

при этом XRPD измерена с применением падающего пучка излучения Cu Kα.

10. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-9, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), приведенные в таблице C ниже:

при этом XRPD измерена с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å.

11. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-10, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), составляющие 5,7, 5,4, 5,2, 4,8, 4,6, 4,3, 3,9 и 3,5.

12. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-11, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), приведенные в таблице A ниже:

13. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-12, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), составляющие 7,2, 6,4, 5,7, 5,4, 5,2, 4,9, 4,8, 4,6, 4,3, 3,9 и 3,5.

14. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-13, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), приведенные в таблице B ниже:

15. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-14, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), составляющие 6,9, 12,3, 13,8, 14,5, 15,4, 16,6, 17,2, 18,2, 18,5, 19,5, 20,1, 20,5, 20,7, 21,0, 21,5, 22,9, 24,7, 25,2, 25,4, 25,7, 26,4, 27,5 и 27,8.

16. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-15, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), приведенные в таблице C ниже:

17. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-16, где кристаллическая форма A характеризуется термограммой дифференциальной сканирующей калориметрии (DSC) или термограммой термогравиметрического анализа (TGA), показанными на фигуре 2.

18. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-17, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, измеренной с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å, при этом рентгенограмма, по сути, показана на любой из фигур 35, 37 и 47.

19. Кристаллическая форма A по любому из пп. 1-18, где кристаллическая форма A характеризуется рентгенограммой XRPD, измеренной с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å, при этом рентгенограмма показана на любой из фигур 35, 37 и 47.

20. Кристаллическая форма B гидрохлорида (1R,5S)-1-(нафталин-2-ил)-3-азабицикло[3.1.0]гексана, относящаяся к пространственной группе P2₁2₁2₁ и характеризующаяся следующими параметрами элементарной ячейки:

a=5,9055(2) Å, b=7,4645(3) Å, c=29,1139(13) Å, α=β=γ=90°.

21. Кристаллическая форма B по п. 20, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), составляющие 6,0, 17,4, 18,9, 19,2 и 24,4, при этом XRPD измерена с применением падающего пучка излучения Cu Kα.

22. Кристаллическая форма B по п. 20 или п. 21, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), приведенные в таблице D ниже:

при этом XRPD измерена с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å.

23. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-22, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), составляющие 6,0, 13,2, 17,4, 18,9, 19,2, 23,6, 23,8, 24,4 и 28,2, при этом XRPD измерена с применением падающего пучка излучения Cu Kα.

24. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-23, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), приведенные в таблице E ниже:

при этом XRPD измерена с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å.

25. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-24, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), составляющие 6,0, 12,1, 13,2, 14,9, 15,1, 16,0, 16,9, 17,4, 18,2, 18,9, 19,2, 19,9, 21,1, 21,3, 21,7, 22,6, 23,6, 23,8, 24,4, 25,3, 26,1, 26,6, 27,2, 28,2, 28,7 и 29,5, при этом XRPD измерена с применением падающего пучка излучения Cu Kα.

26. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-25, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения 2-тета (°), выбранные из значений, приведенных в таблице F ниже:

при этом XRPD измерена с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å.

27. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-26, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), составляющие 14,6, 5,1, 4,7, 4,6 и 3,6.

28. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-27, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), приведенные в таблице D ниже:

29. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-28, где кристаллическая форма B, где кристаллическая форма B характеризуется XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), составляющие 14,6, 6,7, 5,1, 4,7, 4,6, 3,8, 3,7, 3,6 и 3,2.

30. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-29, где кристаллическая форма B, где кристаллическая форма B характеризуется XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), приведенные в таблице E ниже:

31. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-30, где кристаллическая форма B характеризуется XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), составляющие 14,6, 7,3, 6,7, 6,0, 5,9, 5,5, 5,2, 5,1, 4,9, 4,7, 4,6, 4,5, 4,2, 4,1, 3,9, 3,8, 3,7, 3,6, 3,5, 3,4, 3,3, 3,2, 3,1 и 3,0.

32. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-31, где кристаллическая форма B, где кристаллическая форма B характеризуется XRPD, содержащей значения межплоскостного расстояния d (Å), приведенные в таблице F ниже:

33. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-32, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, измеренной с применением излучения с длиной волны 1,541871 Å, при этом рентгенограмма, по сути, показана на фигуре 5.

34. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-33, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, измеренной с применением излучения с длиной волны 1,541871 Å, при этом рентгенограмма показана на фигуре 5.

35. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-34, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, измеренной с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å, при этом рентгенограмма, по сути, показана на любой из фигур 7, 40 и 48.

36. Кристаллическая форма B по любому из пп. 20-35, где кристаллическая форма B характеризуется рентгенограммой XRPD, измеренной с применением излучения с длиной волны 1,54059 Å, при этом рентгенограмма показана на любой из фигур 7, 40 и 48.

37. Фармацевтическая композиция, содержащая кристаллическую форму A по любому из пп. 1-19 и фармацевтически приемлемый разбавитель или носитель.

38. Способ профилактики или лечения синдрома гиперактивности с дефицитом внимания, например, у пациента с нарушением, связанным с ломкой X-хромосомой, предусматривающий введение пациенту, нуждающемуся в этом, терапевтически эффективного количества любой кристаллической формы A по любому из пп. 1-19 или фармацевтической композиции по п. 37.

39. Способ профилактики или лечения нарушения, связанного со злоупотреблением химическими веществами, нарушения, связанного с ломкой X-хромосомой, расстройства аутистического спектра, например, у пациента с нарушением, связанным с ломкой X-хромосомой, коморбидного синдрома гиперактивности с дефицитом внимания и депрессии, коморбидного синдрома гиперактивности с дефицитом внимания и злоупотребления химическими веществами или коморбидного синдрома гиперактивности с дефицитом внимания и тревожности, предусматривающий введение пациенту, нуждающемуся в этом, терапевтически эффективного количества любой кристаллической формы A по любому из пп. 1-19 или фармацевтической композиции по п. 37.

40. Фармацевтическая композиция, содержащая кристаллическую форму B по любому из пп. 20-36 и фармацевтически приемлемый разбавитель или носитель.

41. Способ профилактики или лечения синдрома гиперактивности с дефицитом внимания, например, у пациента с нарушением, связанным с ломкой X-хромосомой, предусматривающий введение пациенту, нуждающемуся в этом, терапевтически эффективного количества любой кристаллической формы B по любому из пп. 20-36 или фармацевтической композиции по п. 40.

42. Способ профилактики или лечения нарушения, связанного со злоупотреблением химическими веществами, нарушения, связанного с ломкой X-хромосомой, расстройства аутистического спектра, например, у пациента с нарушением, связанным с ломкой X-хромосомой, коморбидного синдрома гиперактивности с дефицитом внимания и депрессии, коморбидного синдрома гиперактивности с дефицитом внимания и злоупотребления химическими веществами или коморбидного синдрома гиперактивности с дефицитом внимания и тревожности, предусматривающий введение пациенту, нуждающемуся в этом, терапевтически эффективного количества любой кристаллической формы A по любому из пп. 20-36 или фармацевтической композиции по п. 40.