Способ и устройство для измерения толщины отложений - RU2011135982A

Реферат

1. Способ измерения толщины любых отложений материала на внутренней стенке структуры, пропускающей поток углеводородного флюида, способ содержит этапы, на которых(a) применяют первый тепловой импульс или непрерывный нагрев к, по меньшей мере, одной первой секции структуры для удаления отложений на внутренней стенке первой секции структуры,(b) применяют второй тепловой импульс к первой секции структуры и к, по меньшей мере, одной второй секции структуры, причем первая и вторая секции разнесены друг от друга, причем тепловой импульс не ослабляет никакие отложения материала во второй секции,(c) измеряют температуру стенки структуры или флюида в течение второго теплового импульса на первой и второй секциях, и(d) определяют толщину любых отложений материала на внутренней стенке структуры на второй секции на основании измеренных температур.2. Способ по п.1, в котором тепловой импульс содержит, по меньшей мере, один цикл нагрева, сопровождаемый циклом охлаждения.3. Способ по п.1 или 2, в котором первый тепловой импульс или непрерывный нагрев поднимает температуру внутренней стенки структуры первой секции выше температуры выпадения осадка, в случае парафина, выше температуры выпадения парафинов (WAT), и, для гидратов, выше температуры образования гидратов.4. Способ по п.1, в котором второй тепловой импульс обеспечивает температуры внутренних стенок структуры первой и второй секций выше их рабочих температур, но на второй секции ниже температуры выпадения осадка, в случае парафина, ниже температуры выпадения парафинов (WAT), и для гидратов ниже температуры образования гидратов.5. Способ по п.1, в котором температура выпадения ос