Способ фотонной сканирующей туннельной микроскопии и фотонный сканирующий туннельный микроскоп - RU94028284A

Реферат

Способ фотонной сканирующей туннельной микроскопии и фотонный сканирующий туннельный микроскоп предназначены для излучения образца в сканируемой зоне. Способ представляет собой генерацию ближнего поля света в зоне образца, которое имеет возрастающую интенсивность в направлении, нормальном к поверхности. Ближнее поле света проверяется зондом, получающим фотоны из этого ближнего поля, которые проходят за счет туннельного эффекта к поверхности зонда. Полученные фотоны детектируются, а детектор вырабатывает выходной сигнал, который пропорционален числу фотонов, полученных зондом. Сканирование осуществляется в зоне образца зондом по меньшей мере в одном направлении. Контроль выходного сигнала при движении зонда для определения выходной информации осуществляют по распределению интенсивности света в направлении к зоне образца. Также описан фотонный сканирующий туннельный микроскоп для осуществления указанного способа.