Способ измерения толщины ферромагнитных изделий и покрытий - SU1048302A1

Описание

Изобретение относится к нераэрушаюшему контролю и может быть ибпользова ,ио для измерения толшины ферромагнитных изделий и покрытий.

Известен способ измерения толшины ферромагнитных изделий и покрытий, который основан на измерении вариаций магнитного поля в магнитном перешейке :парагщельном намагничиваюшей системе CНедостатком этрго способа является низкая точность измерения, связанная с применением механической упругой системы в сочетании с небольшими размерами измерительной /шкалы.

Наиболее близким к изобретению является способ измерения толшины ферромапи нитных изделий и покрытий, заключающийся в том, что изделие намагничивают и измеряют реакцию намагничивающей системы на поле изделия ,2 J .

Недостатком cnocoiSa является низкая точность измерений связанная с анизотропией свойств н чистотой обработки ферромагнитного изделия или основы, а также надежностью контакта полюсов магнита с контролируемой поверхностью.

Цель изобретения - повышение точноети измерения толшины ферромагнитных изделий и покрытий.

Указанная цель достигается тем, что согласно способу измерения толшины ферроматнитных изделий и покрытий попе намагничиваюшей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в которсм создают магнитную неоднородность , измеряют попе магнитной неоднороанос .ти и по его величине шределяют искомый параметр.

При шунтировании намагничивакшей системы ферромагнитным слоем в нем замыкается основная часть магнитного потока. При этом возникает магнитное попе локальной магнитной неоднородносги , которое можно измерить магннточувствительным элементом (датчиком Холла, феррозондом и т.д.). При взаимодействии этого поля с ферромагнитным изделием величина поля в области малых топшин изменяется прстюрционально толшине изделия или немагни1И(лу зазору, образуемому покрытием. По величине измеренног поля определяют толщину изделия либо покрытия.

На чертеже представлено устройство, реализующее способ.

Устройство содержит намагничивающую систек г 1, расположенную на ферромаг .нитной пластине 2 с искусственно нанесенным дефектом 3, установленной на контролируемое изделие 4,Магниточувствительный элемент 5 расположен на ферромагнитной пластине 2 и подключен к измерительному прибору 6,

Устройство работает следующим образе .

Пояе намагничивающей системь 1, замыкаясь в феррстлагнигной пластине 2, создает локальное магнитное поле дефекта 3. При изменении толшины контроляруе мого Изделия 4 или толщины его покрытия значение поля дефекта 3, регистрируемое с помощью магни точу ветви тельного элемента 5, изменяется пропорционально и с п{ЯЛ(ш(ью измерительного прибора 6 можно получать значения толщи ,ны изделия или покрыти$1.

Взаимодействие полялокальной магнит ной неоднородности с изделием позволяет увеличить локальность измерения, исключает механический контакт пошосов намагничивающей системы с контролируемым изделием, что резко уменьшает влия1Ше чистоты обработки поверхности на точность измерени51. Повышение локальности также снижает влияние на точность измерения анвзотрспни магнитных свойств контролируемых изделий и их ге« етрии.

Реферат

СП(Х:ОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛ ЩИНЫ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ И ПОКРЫ ТИЙ, заключающийся в том, что изделие намагничивают и измеряют реакцию погая намагничивающей системы на поле изделия, отлнчаюшийс я тем, что, с целью повышения точности измерений, поле намагничивающей системы шунтируют слоем из ферромагнитного материала, в которс создают магнитную неоднородность, измеряют поле магнитной неоднородности и по его величине определяют искомый параметр. Ш -