Способ измерения толщины слоя покрытия посредством наведения магнитных полей - RU2014120187A

Реферат

1. Способ измерения толщины слоя покрытия (Rev) детали (P), нанесенного на подложку (Sub) этой детали (P), причем покрытие (Rev) и подложка (Sub) соответственно выполнены из отличных друг от друга первого и второго электропроводящих материалов, включающий следующие этапы, на которых:позиционируют средства индукции (Mind) относительно слоя покрытия (Rev) и подают питание на эти средства индукции (Mind) при помощи по меньшей мере одного переменного электрического сигнала (S) для наведения в детали магнитного поля (В), зависящего от электрического сигнала питания (S);измеряют по меньшей мере одну физическую характеристику (Zn), изменяющуюся в зависимости от наведенного в детали (P) магнитного поля (B);определяют первое и второе значения (σ1, σ2) показателя (σn), причем этот показатель (σn) зависит по меньшей мере от удельной электрической проводимости (σrev) первого материала и от частоты (Fn) электрического сигнала питания (S), при этом первое значение (σ1) показателя определяют на основании измерения указанной по меньшей мере одной физической характеристики (Z1), выполненного, когда электрический сигнал (S) имеет первую заданную частоту (F1), и второе значение (σ2) показателя определяют на основании измерения указанной по меньшей мере одной физической характеристики (Z2), выполненного, когда электрический сигнал (S) имеет вторую заданную частоту (F2), отличную от первой частоты (F1); затемвычисляют разность между первым и вторым значениями (σ1, σ2) показателя и определяют толщину слоя покрытия (e) в зависимости от этой разности и от заранее определенных данных, связывающих разность между значениями показателя (σ1, σ2) с соответствующими значениями толщин слоя